x射线发生装置结构组成：
（1）X射线发生器 —— 产生X射线的装置；X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及各种保护电路等部分组成。
（2）测角仪 —— 测量角度2θ的装置；测角仪是X射线衍射仪测量中部分，用来测量衍射角。
（3）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置；计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。
（4）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。
x射线发生装置结构
主要包括三部分：X射线光管、测角仪和检测器。采用应用广泛的Cu靶作为X射线源，配备PIXcel高能检测器，此检测器为固态探测器由65000个像素组成，中能x射线发生装置哪家好，每个像素的尺寸为55×55微米，每个像素都有独立电路，具有快速读出时间和较高的动态范围：每像素行每秒超过1300万次计数。此外仪器光路系统配备索拉狭缝、防散射狭缝、面罩、单色器等，中能x射线发生装置，以使X射线源发射X射线光以单色光源照射样品，中能x射线发生装置供应商，而样品产生的衍射光以平行光束达到检测器。
x射线发生装置解决哪些问题？
（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，中能x射线发生装置价格，分析各结晶相的比例。
（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。
（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
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